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高頻紅外碳硫分析儀下空白試驗
高頻紅外碳硫分析儀下空白試驗
高頻紅外碳硫分析儀使用中我們是將錫囊置于坩堝中，將錫囊輕輕壓向坩堝的底部，加入與試樣等量的純鐵和加速劑。處理坩堝并測定含量。
得到空白試驗讀數(shù)并利用校準線換算為碳的mg數(shù)。
由空白試驗中的碳含量減去純鐵中的碳含量得到空白值。
平均空白值(m1)由2個空白值計算得到。
注：⑴應用校準曲線錫囊制備
錫囊的制備：用微量移液管吸取100μl水注入錫囊)中，在90℃烘干2小時。
⑵加速劑的加入量，取決于儀器的性能和分析的材料類型。一般來說，其用量只要試樣充分燃燒即可。
⑶兩個空白的誤差和平均空白值都不得超過0.01mg碳，如果異常高，應查明并清除污染源。
引起系統(tǒng)空白的因素很多，不同時期由于材料批次不同，空白值也不相同，因此在分析低含量樣品前必須進行空白校正。下面我們推薦如下的測試空白方法，一般在未求校正值之前測試空白值，用同一瓶氧氣，固定量的助溶劑空白值基本一致，操作方法與求校正值相同。由高頻紅外碳硫分析儀結果計算公式可知，為獲得滿意的低含量分析結果，還需注意：測試空白值所鍵入的重量應與實際測試樣品的重量相同。來文來自：南京華欣分析儀器制造有限公司技術部 www.ftpig.com