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全譜光譜儀的偏差分析
全譜光譜儀的偏差分析
光譜分析方法測(cè)定試樣中元素含量時(shí)，所得結(jié)果與真實(shí)含量通常并不是一致的，會(huì)存在著一定的誤差和偏差。這里所說的誤差是指每次測(cè)得的數(shù)值與真值之差，而偏差是指每次測(cè)得的數(shù)值與多次測(cè)量平均值之差。但習(xí)慣上人們常把誤差與偏差混用而不加區(qū)別。根據(jù)誤差的性質(zhì)及其產(chǎn)生原因，誤差可分為:系統(tǒng)誤差(恒定誤差)、偶然誤差(隨機(jī)誤差)和過失誤差三種。
( 1)系統(tǒng)誤差：是指在測(cè)定過程中，由于某些固定的或按一定規(guī)律變化的因素，使測(cè)定結(jié)果向一個(gè)方向偏離真值所出現(xiàn)的誤差。系統(tǒng)誤差的大小在同一實(shí)驗(yàn)中基本上是相同的。測(cè)量結(jié)果與真值偏離的程度越小，測(cè)定結(jié)果越正確，系統(tǒng)誤差就越小。只要找出產(chǎn)生系統(tǒng)誤差的原因一般可以通過校正將其扣除。
(2)偶然誤差：在測(cè)定中，多次分析結(jié)果與真實(shí)含量比較,是向兩個(gè)不同方向偏離，這時(shí)的誤差稱為偶然誤差。偶然誤差有時(shí)大、有時(shí)小、有時(shí)正，有時(shí)負(fù)，但其正負(fù)的出現(xiàn)機(jī)會(huì)基本相等。并且服從高斯分布定律。產(chǎn)生偶然誤差的原因很多，要完全消除偶然誤差是不可能的。但是，通過誤差分析, 找出產(chǎn)生誤差大的環(huán)節(jié)，改進(jìn)分析條件和方法，仍然可以降低一些偶然誤差。
(3)操作失誤誤差：這種誤差也可以稱為差錯(cuò)，是由于操作不細(xì)心、操作不正確所造成的,如樣品順序顛倒,讀錯(cuò)刻度、記錄或計(jì)算錯(cuò)誤等等。
光譜分析過程，是由若千環(huán)節(jié)所組成的，每--個(gè)環(huán)節(jié)都產(chǎn)生一定的誤差。當(dāng)無(wú)過失誤差時(shí)，光譜分析的誤差來源主要是系統(tǒng)誤差和偶然誤差，所有這些誤差的總和，便決定了光譜分析的準(zhǔn)確度。而分析的準(zhǔn)確度包含兩方面內(nèi)容，一是分析的正確性，二是分析的再現(xiàn)性。正確性表示分析結(jié)果與真實(shí)含量的接近程度。系統(tǒng)誤差小，正確性高。精密度(再現(xiàn)性)表示多次分析結(jié)果的離散程度。當(dāng)沒有系統(tǒng)誤差，或者系統(tǒng)誤差比偶然誤差小得多時(shí)，精密度就等于準(zhǔn)確度。
