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光譜分析儀常用光源的放電方式
光譜分析儀總是以速度快的優(yōu)勢(shì)越來越占據(jù)整個(gè)分析市場(chǎng)，會(huì)越來越流行的，光譜分析儀的制造也是非常精密的。
光譜分析儀常用光源有以下幾種放電方式：
1. 高能預(yù)火花放電很大電流可達(dá)150安和燃燒時(shí)間為150微秒，這樣使試樣中燃燒斑點(diǎn)內(nèi)的組織結(jié)構(gòu)更加均勻，由此來消除元素之間干擾及元素之間結(jié)合等效應(yīng)。
2.火花型放電對(duì)大多數(shù)元素重現(xiàn)性好。
3. 電弧型放電重現(xiàn)性要比火花放電差2—3倍，但對(duì)痕量元素檢要低得多。
因此在選擇光源時(shí)應(yīng)盡量滿足以下要求：
1.高靈敏度，隨著樣品中元素濃度微小變化，其檢出的信號(hào)有較大的變化;
2.低檢，能對(duì)微量及痕量成分進(jìn)行檢驗(yàn);
3.良好的穩(wěn)定性，試樣能穩(wěn)定的蒸發(fā)、原子化和激發(fā)，使結(jié)果具有較高的精密度：
4.譜線強(qiáng)度與背景強(qiáng)度之比大(信噪比大);
5. 分析速度快，預(yù)燃時(shí)間短;
6.構(gòu)造簡(jiǎn)單，容易操作，安全;
7.自吸收效應(yīng)小，校準(zhǔn)曲線的線性范圍寬。
光源激發(fā)條件的選擇，要根據(jù)分析對(duì)象經(jīng)過試驗(yàn)來決定。 對(duì)于不同的試樣在不同的光源下其預(yù)燃時(shí)間是不一樣的，這主要取決于試樣在火花放電時(shí)的蒸發(fā)過程，它不僅與光源的能量、放電氣氛密切有關(guān)以外，還與試樣組成、結(jié)構(gòu)狀態(tài)、夾雜物種類、大小等等密切有關(guān)。
在氬氣氣氛中的火花放電一般可以分為兩種極端狀態(tài)：濃縮放電和擴(kuò)散放電。當(dāng)放電是在金屬相上進(jìn)行時(shí)稱濃縮放電，當(dāng)放電是在非金屬相上進(jìn)行時(shí)稱擴(kuò)散放電。在氬氣中放電時(shí)，產(chǎn)生擴(kuò)散放電的主要原因有以下三個(gè)方面：1.氬氣的純度;2.氬氣的出入口管道或放電室的泄露是使放電過程中引入氧氣的第二個(gè)來源：3. 樣品本身是使放電過程中引入氧氣的第三個(gè)來源(如夾雜物，氣泡和裂紋等);在氬氣中放電時(shí)，氬氣壓力，氬氣流量及沖洗時(shí)間也均影響光電光譜分析的結(jié)果。
